參考答案：

1. 高溫儲(chǔ)存

電子元件的故障主要是由體內(nèi)和表面的各種物理和化學(xué)變化引起的，與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，故障過(guò)程也加快。使有缺陷的部件能夠及時(shí)暴露和消除。高溫篩選廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)備中，可有效消除表面沽污、鍵合不良、氧化層缺陷等失效機(jī)理的器件。通常在高結(jié)溫下儲(chǔ)存24-168小時(shí)。高溫篩選簡(jiǎn)單易行，成本低，可在許多元器件上實(shí)施。通過(guò)高溫儲(chǔ)存還可以穩(wěn)定元件的參數(shù)性能，減少使用中的參數(shù)漂移。

2. 功率電老煉

在篩選過(guò)程中，在熱電應(yīng)力的共同作用下，可以很好地暴露元器件內(nèi)部和表面的各種潛在缺陷，是可靠性篩選的重要項(xiàng)目。功率老煉需要特殊的試驗(yàn)設(shè)備，成本高，篩選時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)。

3. 溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱膨脹和冷收縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元器件容易失效。溫度循環(huán)篩選采用*高溫和*低溫之間的熱膨脹和冷收縮應(yīng)力，能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。

4. 離心加速度

離心加速度試驗(yàn)又稱恒應(yīng)力加速度試驗(yàn)。該篩選通常在半導(dǎo)體器件上進(jìn)行，利用高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件，可以剔除鍵合強(qiáng)度過(guò)弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件。

5. 監(jiān)測(cè)振動(dòng)和沖擊

對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行振動(dòng)或沖擊試驗(yàn)時(shí)的電氣性能監(jiān)測(cè)通常被稱為監(jiān)測(cè)振動(dòng)或監(jiān)測(cè)沖擊試驗(yàn)。該試驗(yàn)可模擬產(chǎn)品使用過(guò)程中的振動(dòng)和沖擊環(huán)境，能有效地剔除瞬時(shí)短、斷路等機(jī)械結(jié)構(gòu)不良的元器件以及整機(jī)中的虛焊等故障。監(jiān)測(cè)振動(dòng)和沖擊是高可靠繼電器、連接器和軍用電子設(shè)備的重要篩選項(xiàng)目。監(jiān)測(cè)振動(dòng)和沖擊需要特殊的試驗(yàn)設(shè)備，成本昂貴，一般不用于民用電子產(chǎn)品。

檢測(cè)流程

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