原子力顯微鏡AFM檢測有哪些參考依據(jù)?檢測標(biāo)準(zhǔn)有哪些?費(fèi)用是多少?百檢檢測可依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對粉末、液體、塊體、薄膜等樣品進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的檢測報(bào)告。

項(xiàng)目簡介

表面形貌和表面粗糙度、準(zhǔn)確定位如：納米片厚度/臺(tái)階高度

粉末，溶液，塊狀樣品的表面形貌，厚度，粗糙度檢測

生物/纖維樣品的表面形貌

相圖

適用范圍

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、液體、塊體、薄膜樣品;

2. 粉末樣品：常規(guī)檢測項(xiàng)目樣品起伏一般不超過5微米，特殊檢測項(xiàng)目樣品起伏一般不超過1um，提供20mg，液體不少于1ml，尺寸過大請?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理;

3. 粉末/液體樣品請務(wù)必備注好制樣條件，包括分散液，超聲時(shí)間及配制濃度;

4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過5um，一定要標(biāo)明檢測面!

相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)

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GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法

GB/T 28872-2012 活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法

GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子臺(tái)階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法

GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗(yàn)法

ISO 23729-2022 表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南

ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和**相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南

T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測定 原子力顯微鏡法

T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法

EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測量方法

辦理檢測報(bào)告的目的

1、評定產(chǎn)品質(zhì)量的好壞;

2、判斷產(chǎn)品質(zhì)量等級，即缺陷嚴(yán)重程度;

3、對工藝流程進(jìn)行檢驗(yàn)和工序質(zhì)量的監(jiān)督;

4.對質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行搜集統(tǒng)計(jì)與分析，以便為質(zhì)量改進(jìn)與質(zhì)量管理活動(dòng)的開展奠定基礎(chǔ);

檢測流程

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