原位紫外光譜檢測有哪些參考依據(jù)?檢測標(biāo)準(zhǔn)有哪些?費(fèi)用是多少?百檢檢測可依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對納米粉體材料、電工鋼等樣品進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的檢測報(bào)告。

項(xiàng)目簡介

原位紫外光譜檢測。

樣品要求

納米粉體材料、電工鋼、氮化鎵襯底片、濾光玻璃、硅片等。

相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 37131-2018 納米技術(shù) 半導(dǎo)體納米粉體材料紫外-可見漫反射光譜的檢測方法

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GB/T 7962.12-2010 無色光學(xué)玻璃檢測方法 第12部分：光譜內(nèi)透射比

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GB/T 15489.1-1995 濾光玻璃檢測方法 光譜特性

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GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜檢測方法

辦理檢測報(bào)告的目的

1、評定產(chǎn)品質(zhì)量的好壞;

2、判斷產(chǎn)品質(zhì)量等級(jí)，即缺陷嚴(yán)重程度;

3、對工藝流程進(jìn)行檢驗(yàn)和工序質(zhì)量的監(jiān)督;

4.對質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行搜集統(tǒng)計(jì)與分析，以便為質(zhì)量改進(jìn)與質(zhì)量管理活動(dòng)的開展奠定基礎(chǔ);

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。