微區(qū)XRD檢測有哪些參考依據(jù)?檢測標(biāo)準(zhǔn)有哪些?費用是多少?百檢檢測可依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗方案。對晶體內(nèi)部缺陷、晶格缺陷等項目進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的檢測報告。

項目簡介

利用譜圖信息不僅可以實現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內(nèi)部是否存在缺陷(位錯)和晶格缺陷等。微區(qū)衍射(也稱為射線微區(qū)衍射、微區(qū)X射線衍射或 uXRD)分析使用非常窄的光束來進(jìn)行*小區(qū)域內(nèi)的高度局部化XRD測量。

適用樣品

污染物、夾雜物、礦物樣品、法醫(yī)樣品、古代繪畫的微小橫截面、考古樣本、冶金工件、工具嵌件、圖案化晶片。

少量粉末、小尺寸塊狀樣品、大樣品的局部區(qū)域、特殊形狀樣品的不同區(qū)域，可測區(qū)域200um-2mm。

相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36655-2018 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的檢測方法 XRD法

GB/T 30904-2014 無機化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法

GB/T 34612-2017 藍(lán)寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線測量方法

GB/T 30793-2014 X-射線衍射法測定二氧化鈦顏料中銳鈦型與金紅石型比率

GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法 X射線衍射分析法

GB/T 39520-2020 彈簧殘余應(yīng)力的X射線衍射檢測方法

GB/T 39860-2021 膠乳制品表面殘余礦物粉末的快速鑒別 X-射線衍射法

GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法

NF B49-422-2-2008 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法

DIN EN 12698-2-2007 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法

辦理檢測報告的目的

1、評定產(chǎn)品質(zhì)量的好壞;

2、判斷產(chǎn)品質(zhì)量等級，即缺陷嚴(yán)重程度;

3、對工藝流程進(jìn)行檢驗和工序質(zhì)量的監(jiān)督;

4.對質(zhì)量數(shù)據(jù)進(jìn)行搜集統(tǒng)計與分析，以便為質(zhì)量改進(jìn)與質(zhì)量管理活動的開展奠定基礎(chǔ);

檢測流程

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