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覆層厚度檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)方法一覽表

2022-06-20

測試項(xiàng)目:覆層厚度。

測試目的:金屬及氧化物覆蓋層厚度測定。

項(xiàng)目介紹:金屬覆蓋層厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝,提高效應(yīng)。測量覆蓋層厚度時(shí)有以下幾個(gè)主要的影響因素:1.覆蓋層或覆蓋層基體表面的粗糙度情況,如果很粗糙那么會(huì)影響測量精度;2.橫斷面的斜度,如果橫斷面不垂直與待測覆蓋層平面,那么測試值將會(huì)偏大;3.覆蓋層變形,試樣制備過程中如果覆蓋層產(chǎn)生了有害的變形,那么測量結(jié)果也會(huì)受到影響;4.覆蓋層邊緣倒角,試樣制備時(shí)有不正確的打磨拋光,導(dǎo)致覆蓋層邊緣不平整影響測量結(jié)果;5.附加鍍層,試樣制備時(shí)為了保護(hù)覆蓋層邊緣,常在待測試樣上附加鍍層,附加的鍍層在去除時(shí)也會(huì)影響測量精度;6,其他的一些影響因素,如:浸蝕、放大倍數(shù)(顯微鏡的視野為覆蓋層厚度的1.5~3倍)、顯微鏡質(zhì)量等均會(huì)對測量精度造成影響。

測試要求:

測試標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)名稱

樣品要求

測試內(nèi)容

適用范圍

GB/T 6462-2005

金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法

取樣橫截面垂直于覆蓋層

覆蓋層厚度

金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層

ASTM B487-1985(2013)

用橫截面顯微觀察法測量金屬及氧化層厚度的試驗(yàn)方法

金屬覆蓋層、氧化膜層

ISO 1463-2003

金屬和氧化物覆蓋層 覆蓋層厚度測量 顯微鏡法

金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層

JIS H8501-1999

鍍層的厚度試驗(yàn)方法

10mm×10mm正方形

金屬覆蓋層、氧化膜層

AS 2331.1.1-2001 R2017

金屬及相關(guān)涂層的試驗(yàn)方法1.1:局部厚度試驗(yàn) 截面顯微鏡法

取樣橫截面垂直于覆蓋層

金屬覆蓋層、氧化膜層和釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層,不適用于油漆

ASTM B748-1990(2016)

通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗(yàn)方法

金屬覆蓋層、復(fù)合涂層、特別適用于光學(xué)顯微鏡無法測量的涂層

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。

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