防花粉性能檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)(全)
2022-08-17
*,電子電器的復(fù)雜性在不斷地增多。我們*開始運(yùn)用的礦石收音機(jī)是很簡單的,隨著陸續(xù)出現(xiàn)了各種各樣的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放攝影機(jī)、通訊設(shè)備機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)設(shè)備、電子計算機(jī)和宇航控制系統(tǒng),復(fù)雜性不斷地增加。電氣設(shè)備復(fù)雜度的顯著標(biāo)志是所需元件的數(shù)量。而電子電器的可靠性決定于所用元器件的可靠性,因為電子電器中的任何一個元器件、任何一個焊點(diǎn)發(fā)生故障都將導(dǎo)致系統(tǒng)發(fā)生故障。一般說來,電子電器所用的元器件數(shù)量越多,其可靠性問題就越明顯,為保證產(chǎn)品或系統(tǒng)能可靠地運(yùn)行,對元器件可靠性的需求就特別高、特別嚴(yán)格。
第二,電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)格。從實(shí)驗室到戶外,從熱帶地區(qū)到寒帶,從陸上到海底,從高空到宇宙空間,承受著不一樣的環(huán)境條件,除環(huán)境溫度、環(huán)境濕度干擾外,海水、鹽霧、沖擊性、振動、宇宙空間粒子、各種輻射等對電子元件的干擾,導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增加。
*后,電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。電子產(chǎn)品由*代電子管產(chǎn)品發(fā)展進(jìn)步到第二代晶體管,現(xiàn)在已經(jīng)由小型、中等規(guī)模集成電路發(fā)展進(jìn)步到大型、超大型集成電路,電子產(chǎn)品正在向小型化、微型化方向發(fā)展進(jìn)步,其結(jié)果就是器件密度越來越大,導(dǎo)致內(nèi)部溫度升高,散熱條件惡化。而電子元件將隨環(huán)境溫度的增高,減少其可靠性,因而元器件的可靠性引起人們的*大關(guān)注。
可靠性已經(jīng)變?yōu)楫a(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗。很久以來,人們只把電子元器件的技術(shù)性能指標(biāo)作為其質(zhì)量好壞的標(biāo)志,這只是質(zhì)量好壞的一個方面,并不能全面反映產(chǎn)品的質(zhì)量狀況。因為,如果產(chǎn)品不可靠,即使其技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說,可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。
可靠性工程是一個綜合的學(xué)科,它的發(fā)展進(jìn)步可以帶動和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展進(jìn)步,把電子元件和其它電子產(chǎn)品提高到一個新的水平。正因為這樣,可靠性對現(xiàn)代工業(yè)體系的產(chǎn)品尤其是電子產(chǎn)品非常的重要。
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