集成電路檢測需要根據(jù)標準內(nèi)指定項目、方法進行，GB國標、行標、外標、企標、地方標準。集成電路檢測項目和標準是什么?第三方檢測機構(gòu)提供集成電路檢測報告辦理，工程師一對一服務(wù)，根據(jù)需求選擇對應(yīng)檢測標準及項目，制定檢測方案后安排實驗室寄樣檢測。集成電路檢測服務(wù)

檢測周期：常規(guī)3-15個工作日，可加急（特殊樣品除外）

報告樣式：電子版、紙質(zhì)，中、英文均可。

報告資質(zhì)：CMA、CNAS

集成電路檢測項目：

檢測項目：

低溫存儲試驗、低溫工作試驗、低溫運行試驗、沖擊試驗、功率因數(shù)測量誤差試驗、功率測量誤差試驗、功耗試驗、可焊性試驗、周期中斷功能試驗、響應(yīng)時間試驗、增益試驗、外觀和尺寸檢查、失效保護功能試驗、工作電流試驗、開路/短路、引出端強度試驗、抗靜電檢測試驗、抗靜電能力試驗、振動試驗、接收器差分輸入閾值電壓試驗、接收器輸入阻抗試驗、接收器輸出電壓試驗、接收器輸出短路電流試驗、接收器輸出高阻態(tài)漏電流試驗、接收靈敏度試驗、數(shù)字輸入電壓試驗、時鐘功能試驗、機械性能試驗、*性判別時間試驗、*限溫度使用試驗、溫度沖擊試驗、溫度影響量試驗、焊錫接合強度試驗、電壓信號采樣通道測量誤差試驗、電壓基準試驗、電流信號采樣通道測量誤差試驗、電源電流檢測、電能計量誤差試驗、線性放大試驗、耐濕、耐焊接熱試驗、自動*性判斷和校正試驗、諧波影響量試驗、過壓保護功能試驗、過流保護功能試驗、通信速率及誤碼率試驗、鬧鐘中斷試驗、靜態(tài)工作電流、頻率影響量試驗、頻率測量誤差試驗、頻率溫度特性試驗、頻率電壓特性試驗、驅(qū)動器共模輸出電壓試驗、驅(qū)動器差分輸出電壓試驗、驅(qū)動器輸出短路電流試驗、高溫存儲試驗、高溫壽命試驗、高溫工作試驗、高溫運行試驗、高溫高濕存儲試驗、高溫高濕試驗、X射線檢查、剪切強度、外部目檢、密封、恒定加速度、溫度循環(huán)、穩(wěn)定性烘焙、穩(wěn)態(tài)壽命、粒子碰撞噪聲檢測、粒子碰撞噪聲檢檢測驗、老煉試驗、芯片剪切強度、芯片粘接的超聲檢測、鍵合強度、鍵合強度（破壞性鍵合拉力試驗）、靜電放電敏感度的分級、靜電放電敏感度檢測/人體模型、靜電放電敏感度檢測/場感應(yīng)器件放電模型、靜電放電敏感度檢測/集成電路閂鎖檢測、掃描電子顯微鏡（SEM）檢查、傳導(dǎo)發(fā)射測量-1Ω/150Ω直接耦合法、傳導(dǎo)抗擾度測量-大電流注入（BCI）法、傳導(dǎo)抗擾度測量-直接注入法、汽車電子瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾度（脈沖1，2a、3a、3b)、電快速瞬變脈沖群抗擾度、輻射發(fā)射測量-TEM小室和寬帶TEM小室法、輻射抗擾度測量-TEM小室和寬帶TEM小室法、低溫工作壽命檢測、常溫循環(huán)擦寫后的數(shù)據(jù)保持能力檢測、常溫循環(huán)擦寫后的數(shù)據(jù)保持能力檢測和讀操作干擾檢測、常溫循環(huán)擦寫耐力檢測、未經(jīng)循環(huán)擦寫的超高溫數(shù)據(jù)保持能力檢測、未經(jīng)循環(huán)擦寫的高溫數(shù)據(jù)保持能力檢測、高溫工作壽命檢測、高溫循環(huán)擦寫后的超高溫數(shù)據(jù)保持能力檢測、高溫循環(huán)擦寫后的高溫工作壽命檢測、高溫循環(huán)擦寫后的高溫數(shù)據(jù)保持能力檢測、高溫循環(huán)擦寫耐力檢測、高溫早期失效檢測、(運算放大器的)短路輸出電流、MOS電路傳輸時間、MOS電路延遲時間和轉(zhuǎn)換時間、串?dāng)_衰減、串?dāng)_衰減（多重放大器）、交變濕熱、低溫、共模輸入電壓范圍、沖擊、分辨時間、功能驗證、動態(tài)條件下的總電源電流、動態(tài)特性、單位增益頻率、雙*型電路傳輸時間、雙*型電路延遲時間和轉(zhuǎn)換時間、可焊性、響應(yīng)時間、基準電壓、備用電流（靜態(tài)電流）、外部目檢和標志檢查、存儲器寫恢復(fù)時間、存儲器地址存取時間、存儲器片選存取時間、存儲器讀存取時間、導(dǎo)通時間和截止時間、小信號輸入阻抗、尺寸、差分放大器的輸出電壓范圍、建立時間和保持時間、開環(huán)電壓放大倍數(shù)、引出端之間的絕緣電阻、引出端強度、彎曲試驗、強加速濕熱、截止態(tài)和導(dǎo)通態(tài)電流（對模擬信號開關(guān)電路）、截止態(tài)開關(guān)隔離、截止頻率、扭轉(zhuǎn)試驗、拉力試驗、振動，掃描頻率、控制饋通電壓、推力試驗、數(shù)字集成電路功能檢驗、時序電路的轉(zhuǎn)換頻率、易燃性、*小寫脈沖持續(xù)時間（脈寬）的檢測、*高和*低工作溫度下電特性、標志耐久性、標志耐溶劑性、正向鎖定的輸入/輸出電壓或電流、溫度變化、溫度快速變化、滿輸出電壓幅度的上限頻率、獨立元件的測量(外貼元件)、獨立元件的測量(淀積膜元件的測量)、環(huán)境溫度下電特性、電壓檢測：等效輸入和輸出電容、等效輸入和輸出電阻、電流檢測：大信號工作時的輸入和輸出電容、電檢測

集成電路檢測標準：

檢測標準：

1、EN 61967-2:2005 集成電路-電磁發(fā)射測量，150kHz - 1GHz-第2部分:輻射發(fā)射測量- TEM小室和寬帶TEM小室法 8

2、GJB4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 項目1101、項目1102 2.3

3、GB/T12750-2006 半導(dǎo)體器件 集成電路第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范（不包括混合電路） 12.1

4、Q/GDW 11179.14-2015 電能表用元器件技術(shù)規(guī)范 第11部分：計量芯片 7.4.1

5、IEC 62132-4:2006 集成電路-電磁抗擾度測量、150 kHz -1 GHz - 第四部分：直接射頻功率輸入法 8

6、SJ 21473.3-2018 軍用集成電路電磁抗擾度測量方法 第3部分：傳導(dǎo)抗擾度測量大電流注入（BCI）法 6

7、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 2016

8、ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 靜電放電敏感度檢測，帶電器件模型（CDM）-器件級

9、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第IV篇 第3節(jié) 4.1.2

10、JESD22-A108F:2017 溫度偏置壽命實驗 4.2.3.2

11、IEC 62215-3:2013 集成電路-脈沖抗擾度測量-第三部分：異步瞬態(tài)注入法 10 & Annex D

12、GB/T 17940-2000、IEC 60748-3:1986 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路 第IV篇 第2節(jié) 17

13、JESD22-A117E:2018 電子可清除可編程ROM編程/清除耐久力和數(shù)據(jù)保持能力檢測 4.2

14、AEC-Q100-005-REV-D1:2012 可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的檢測 3.3

15、JESD47K :2018 IC集成電路壓力檢測考核 5.5 表 5-1

16、IEC 62132-2:2010 集成電路-電磁抗擾度測量，150kHz - 1GHz-第2部分:輻射抗擾度測量- TEM小室和寬帶TEM小室法 8

17、Q/GDW 11179.11-2015 電能表用元器件技術(shù)規(guī)范 第11部分：串口通信協(xié)議RS-485芯片 7.5.1

18、JEDEC JESD78E-2016 集成電路閂鎖檢測

19、IEC 62132-3:2007 集成電路-電磁抗擾度測量、150 kHz -1 GHz - 第三部分：大電流注入（BCI）法 6

20、AEC-Q100-008-REV-A:2003 早期壽命失效率 3.2

樣品檢測流程：

1、致電咨詢百檢客服，確認樣品及需求。

2、客服安排工程師對接，根據(jù)需求制定檢測方案。

3、確認方案、報價后簽訂合同，安排寄樣檢測。

4、實驗室根據(jù)需求，對樣品開展檢測工作。

5、檢測結(jié)束，出具樣品檢測報告。

6、如需加急請?zhí)崆芭c工程師或客服進行溝通。

一份檢測報告有什么用?

產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標、電商平臺上架、商超入駐、學(xué)?？蒲刑峁┛陀^的參考。

百檢檢測特點：

1、檢測行業(yè)覆蓋面廣，滿足不同的檢測;

2、實驗室全覆蓋，就近分配本地化檢測;

3、工程師一對一服務(wù)，讓檢測更準確

4、免費初檢，初檢不收取檢測費用

5、自助下單 快遞免費上門取樣;

6、周期短，費用低，服務(wù)周到;

7、實驗室CMA、CNAS、CAL資質(zhì);

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。