表面異物分析介紹

異物，指的是混入原料或產(chǎn)品里的除對象物品以外的物質(zhì)。

在生產(chǎn)使用過程中，產(chǎn)品表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，或者由于生產(chǎn)缺陷、疏忽等原因引入和形成異物，增加了產(chǎn)品不良率，對產(chǎn)品的使用性能帶來*大影響。異物的生成原因比較多，例如原材料不純、反應有副產(chǎn)物、工藝控制不規(guī)范或工藝配方不成熟等。


本項目通過分析異物，獲得其所含的元素、化學成分，結(jié)合廠家對產(chǎn)品和工藝的了解找出異物產(chǎn)生的真正原因，通過廠家對配方工藝等的改進調(diào)節(jié)進而避免異物的產(chǎn)生。

該技術是專門針對產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物的分析技術。例如對表面嵌入或析出的顆粒物、小分子遷移物、斑點、油狀物、霧狀物、橡膠噴霜等異常物質(zhì)進行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品常用的分析方法之一。

表面異物分析意義

①快速判斷異物或雜質(zhì)的成分，分析產(chǎn)生原因，進行整改提升產(chǎn)品良率；

②通過對異常物質(zhì)分析，進行配方完善；

③消除生產(chǎn)隱患；

④保障生產(chǎn)的穩(wěn)定性。

應用范圍

廣泛應用于化工產(chǎn)品、航空產(chǎn)品及其零部件、汽車產(chǎn)品及其零部件、LCM系列產(chǎn)品、PCB&PCBA、電子元件及半導體產(chǎn)品等。

主要分析方法

方法應用范圍

紅外光譜法

FTIR1.顯微FTIR， 僅需10um以上樣品即可檢測

2.有機物成分分析 （400-4000cm-1

掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法

SEM/EDS1.固體

2.元素分析/元素分布 （B-——U） /形貌觀察

俄歇電子能譜分析儀法

AES*表面 （0-3nm） 分析設備

X射線電子光能譜分析法

XPS1.更精密的元素分析

2.元素價態(tài)， 存在形式分析

飛行時間?次離子質(zhì)譜分析法

TOF-SIMSppm級別表面有機成分分析

動態(tài)?次離子質(zhì)譜分析法

D-SIMSppb級表面及芯部成分分析

氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀分析法

GC-MS1.固體/液體

2.易揮發(fā)組分檢測

檢測流程

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