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切片分析應(yīng)用領(lǐng)域及依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

2022-08-01

切片分析介紹


切片技術(shù),又名切片或金相切片、微切片(英文名: Cross-section,X-section ),是一種觀察樣品截面結(jié)構(gòu)情況常用的制樣分析手段。



切片分析技術(shù)在PCB/PCBA、零部件等制造行業(yè)中是常見的也是重要的分析方法之一,通常被用作品質(zhì)判定和品質(zhì)異常分析、檢驗電路板品質(zhì)的好壞、PCBA焊接質(zhì)量檢測、尋找失效的原因與解決方案、評估制程改進,做為客觀檢查、研究與判斷的根據(jù)。

應(yīng)用領(lǐng)域


電子行業(yè)、金屬/塑料/陶瓷制品業(yè)、汽車零部件及配件制造業(yè)、通信設(shè)備、科研等。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)


IPC-TM 650 2.1.1、 IPC-TM 650-2.2.5、IPC A 600、 IPC A 610等。

切片分析步驟


取樣→清洗→真空鑲嵌→研磨→拋光→微蝕(如有必要)→分析(OM觀察、SEM觀察、EDS分析、EBSD分析等)

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。

電子元器件切片分析應(yīng)用范圍及標(biāo)準(zhǔn)
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