位錯(cuò)密度檢測(cè)范圍

砷化鎵晶體，藍(lán)寶石，45鋼，硅片，納米材料，淬火件，冷軋銅，鑄鈦合金，鈦合金，鋁合金，

位錯(cuò)密度檢測(cè)項(xiàng)目

XRD位錯(cuò)密度檢測(cè)，位錯(cuò)密度測(cè)量等。

檢測(cè)報(bào)告有哪些用途?

1、銷售使用。

2、研發(fā)使用。

3、改善產(chǎn)品質(zhì)量。

4、科研論文數(shù)據(jù)使用。

5、質(zhì)量控制使用。

位錯(cuò)密度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 5252-2020鍺單晶位錯(cuò)密度的檢測(cè)方法

GB/T 8760-2006砷化鎵單晶位錯(cuò)密度的測(cè)量方法

GB/T 32282-2015氮化鎵單晶位錯(cuò)密度的測(cè)量 陰*熒光顯微鏡法

GB/T 33763-2017藍(lán)寶石單晶位錯(cuò)密度測(cè)量方法

GB/T 34481-2017低位錯(cuò)密度鍺單晶片腐蝕坑密度的測(cè)量方法

SJ/T 10557.3-1994電解電容器用鋁箔平均位錯(cuò)密度測(cè)量方法

SJ/T 11489-2015低位錯(cuò)密度磷化銦拋光片蝕坑密度的測(cè)量方法

SJ/T 11490-2015低位錯(cuò)密度砷化鎵拋光片蝕坑密度的測(cè)量方法

檢測(cè)流程

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