標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體設(shè)施接口技術(shù)文件編寫的基本要求和格式。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體設(shè)施的設(shè)計(jì)、施工、供應(yīng)、管理、培訓(xùn)及使用。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15873-1995

標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體設(shè)施接口技術(shù)文件編寫導(dǎo)則

英文名稱：Directives for drafting semiconductor facilities interface specification

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1995-01-02

實(shí)施日期：1996-08-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子工業(yè)生產(chǎn)設(shè)備>>L97加工專用設(shè)備

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>電子電信設(shè)備用機(jī)電零部件>>31.220.10插頭和插座裝置、連接器

起草單位：中國(guó)華晶電子集團(tuán)公司

歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程

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