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SJ 50033/109-1996《半導體光電子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半導體激光二極管詳細規(guī)范》

2024-08-23

SJ 50033/109-1996《半導體光電子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半導體激光二極管詳細規(guī)范》基本信息

標準號:

SJ 50033/109-1996

中文名稱:

《半導體光電子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半導體激光二極管詳細規(guī)范》

發(fā)布日期:

1996-08-30

實施日期:

1997-01-01

發(fā)布部門:

電子工業(yè)部

提出單位:

電子工業(yè)部

歸口單位:

中國電子技術標準化研究所

起草單位:

電子工業(yè)部第四十四研究所

起草人:

王雨蘇、胡思強

中國標準分類號:

L5980

SJ 50033/109-1996《半導體光電子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半導體激光二極管詳細規(guī)范》介紹

《半導體光電子器件GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型 半導體激光二極管詳細規(guī)范》(SJ 50033/109-1996)是由電子工業(yè)部于1996年8月30日發(fā)布的一項行業(yè)標準,自1997年1月1日起正式實施。

一、技術要求

1、光電參數(shù):包括最大輸出功率、閾值電流、工作電壓等,以確保器件在不同工作條件下的性能穩(wěn)定性和可靠性。

2、光譜特性:規(guī)定了激光二極管的中心波長、光譜寬度等參數(shù),以滿足不同應用場景對光譜特性的要求。

3、溫度特性:明確了在不同溫度條件下,激光二極管的光電參數(shù)和光譜特性的變化范圍,以適應不同環(huán)境的應用需求。

4、可靠性:對器件的壽命、老化特性等進行了規(guī)定,以確保長期穩(wěn)定運行。

二、測試方法

1、光電參數(shù)測試:采用特定的測試設備和方法,對器件的輸出功率、閾值電流、工作電壓等參數(shù)進行測量。

2、光譜特性測試:通過光譜分析儀器,對激光二極管的中心波長、光譜寬度等參數(shù)進行測試。

3、溫度特性測試:在不同溫度條件下,對器件的光電參數(shù)和光譜特性進行測試,以評估其溫度穩(wěn)定性。

4、可靠性測試:通過加速老化試驗等方法,評估器件的壽命和可靠性。

三、檢驗規(guī)則

1、檢驗分類:明確了出廠檢驗、型式檢驗和周期檢驗等不同的檢驗類型。

2、抽樣規(guī)則:規(guī)定了抽樣數(shù)量、抽樣方法等,以保證檢驗結果的代表性和準確性。

3、判定規(guī)則:明確了合格與不合格的判定標準,以及不合格品的處理方法。

四、標志、包裝、運輸和儲存

1、標志:要求在器件上標注型號、規(guī)格、生產(chǎn)日期等信息,以便于識別和追溯。

2、包裝:規(guī)定了包裝材料、包裝方式等,以保護器件在運輸過程中不受損壞。

3、運輸:提出了運輸過程中的注意事項,如避免強烈振動、高溫等不利條件。

4、儲存:規(guī)定了儲存條件和期限,以保證器件在儲存期間的性能穩(wěn)定。

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考,更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。

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