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GB/T14119-1993半導體集成電路雙極熔絲式可編程只讀存儲器空白詳細規(guī)范(可供認證用)

2024-10-31

標準簡介:本規(guī)范規(guī)定了編制半導體集成電路雙極熔絲式可編程只讀存儲器詳細規(guī)范的基本原則。本規(guī)范是半導體集成電路一系列空白詳細規(guī)范中的一個,它應與GB 4589.1《半導體器件 分立器件和集成電路總規(guī)范》和GB 12750《半導體集成電路分規(guī)范》一起使用。

標準號:GB/T 14119-1993

標準名稱:半導體集成電路雙極熔絲式可編程只讀存儲器 空白詳細規(guī)范(可供認證用)

英文名稱:Blank detail specification for semiconductor integrated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories

標準類型:國家標準

標準性質(zhì):推薦性

標準狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:1993-01-21

實施日期:1993-08-01

中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術>>微電路>>L56半導體集成電路

國際標準分類號(ICS):電子學>>31.200集成電路、微電子學

起草單位:集成電路標委會

歸口單位:全國半導體器件標準化技術委員會

發(fā)布單位:國家技術監(jiān)督局

檢測流程

檢測流程

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