標(biāo)準(zhǔn)簡介：IEC電子器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權(quán)下進(jìn)行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序，以這種方式使一個(gè)參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子器件無需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，并且與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范IEC 748-11/QC 790100 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路（不包括混合電路）分規(guī)范

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 18500.1-2001

標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第一篇：線性數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器(DAC)空白詳細(xì)規(guī)范

英文名稱：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Bland detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2001-01-01

實(shí)施日期：2002-06-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)

起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測流程

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