標準簡介：本標準規(guī)定了用透射電子顯微鏡(TEM)對薄晶體試樣的微米和亞微米尺寸區(qū)域進行選區(qū)電子衍射分析的方法。被測試樣可以從各種金屬或非金屬材料的薄切片獲得,也可以采用細微的粉末或萃取復型試樣。應用本方法可分析的最小試樣選區(qū)直徑取決于顯微鏡物鏡的球差系數(shù),對于現(xiàn)代TEM,試樣的最小選區(qū)直徑一般可達到0.5μm。當被分析試樣區(qū)的直徑小于0.5μm 時仍然可以參照本標準的分析方法,但是由于球差的影響,衍射譜上的部分信息有可能來源于由選區(qū)光闌限定的區(qū)域之外,在這種情況下,如條件允許,最好采用微(納)衍射或者會聚束電子衍射方法。選區(qū)電子衍射方法的成功應用取決于對所獲得的衍射譜指數(shù)標定正確與否,而不論試樣的哪個晶帶軸平行于入射電子束,因而,這樣的分析往往需要借助試樣的傾轉和旋轉裝置。本標準適用于從晶體試樣上獲取SAED 譜、標定衍射譜的指數(shù)以及校準電鏡的衍射常數(shù)。

標準號：GB/T 18907-2013

標準名稱：微束分析 分析電子顯微術 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

英文名稱：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2013-07-19

實施日期：2014-03-01

中國標準分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：化工技術>>分析化學>>71.040.50物理化學分析方

替代以下標準：替代GB/T 18907-2002

起草單位：北京科技大學、北京航空材料研究院、寶鋼集團中央研究院

歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

溫馨提示：以上內容僅供參考，更多其他檢測內容請咨詢客服。