標準簡介：GB/T14849的本部分規(guī)定了工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣、錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩、鈷含量的測定方法。本部分適用于工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣、錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩、鈷含量的測定,測定范圍見表1。表 1元素 質量分數(shù)/% 元素 質量分數(shù)/%鐵 0.020~1.500 銅 0.001~0.050鋁 0.050~1.000 磷 0.001~0.050鈣 0.010~1.000 鎂 0.001~0.050錳 0.0050~0.1000 鉻 0.001~0.050鎳 0.0010~0.1000 釩 0.0005~0.0500鈦 0.0050~0.1000 鈷 0.0005~0.0500

標準號：GB/T 14849.5-2014

標準名稱：工業(yè)硅化學分析方法 第5部分：雜質元素含量的測定 X射線熒光光譜法

英文名稱：Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2014-12-05

實施日期：2015-05-01

中國標準分類號（CCS）：冶金>>金屬化學分析方法>>H12輕金屬及其合金分析方法

國際標準分類號（ICS）：冶金>>有色金屬>>77.120.10鋁和鋁合金

替代以下標準：替代GB/T 14849.5-2010

起草單位：昆明冶金研究院、中國鋁業(yè)股份有限公司山東分公司、云南永昌硅業(yè)股份有限公司

歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會(SAC/TC243)

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

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