標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了人造壓電石英晶體中雜質(zhì)的原子發(fā)射光譜及原子吸收分光光度的分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于人造壓電石英晶體中鋁、鐵、鈣、鎂、鎳、鉻、鋰、鈉、鉀雜質(zhì)素含量的分析。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 11113-1989

標(biāo)準(zhǔn)名稱：人造石英晶體中雜質(zhì)的分析方法

英文名稱：analytical method for impruities in the synthetic quartz crystal

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1989-03-22

實(shí)施日期：1990-03-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子設(shè)備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.020 電子元件綜合?31電子學(xué)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：廢止公告：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)公告2017年第31號(hào)

起草單位：機(jī)械電子工業(yè)部第十八研究所、4400廠、機(jī)械電子工業(yè)部電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所

歸口單位：全國(guó)頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：機(jī)械電子工業(yè)部

檢測(cè)流程

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