標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子探針分析儀的檢測(cè)條件、技術(shù)要求、檢測(cè)方法、判別原則與檢測(cè)周期。本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用中、修理后用X射線波長分光譜儀進(jìn)行素分析的電子探針分析儀的檢測(cè)。配有波譜儀的掃描電子顯微鏡的檢測(cè)可參照?qǐng)?zhí)行。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 15075-1994

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子探針分析儀的檢測(cè)方法

英文名稱：Method for testing EPMA instrument

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1994-05-09

實(shí)施日期：1994-01-02

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測(cè)量>>17.180.30光學(xué)測(cè)量儀器

起草單位：北京地質(zhì)院

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程

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