標準簡介：本標準規(guī)定了硅和鍺單晶體內(nèi)少數(shù)載流子壽命的測量方法。本標準適用于非本征硅和鍺單晶體內(nèi)載流子復(fù)合過程中非平衡少數(shù)載流子壽命的測量。

標準號：GB/T 1553-1997

標準名稱：硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測定光電導(dǎo)衰減法

英文名稱：STANDARD test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1997-06-03

實施日期：1997-01-02

中國標準分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法

國際標準分類號（ICS）：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.01金屬材料試驗綜合

替代以下標準：替代GB 1553-1979;GB 5257-1985;被GB/T 1553-2009代替

起草單位：峨嵋半導(dǎo)體材料廠

歸口單位：全國半導(dǎo)體材料和設(shè)備標準化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測流程

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