標準簡介：本試驗分兩種方法。第一種方法通常是用來模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運期間可能經(jīng)受到的自由跌落，樣品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復自由跌落。使試驗樣品從規(guī)定高度重復跌落到規(guī)定的表面上。它是通過使用合適的設備，例如（旋轉(zhuǎn)）滾筒來實現(xiàn)的。

標準號：GB/T 2423.8-1995

標準名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed:自由跌落

英文名稱：Environmental testing for electric and electronic products Part 2:Test methods Test Ed:Free fall

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1995-08-02

實施日期：1996-08-01

中國標準分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗

替代以下標準：GB 2423.8-1981 GB 2424.6-1981;被GB/T 2423.7-2018代替

起草單位：環(huán)標委第二工作組

歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術委員會

發(fā)布單位：國家技術監(jiān)督局

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。