標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分包括低溫和高溫試驗，帶溫度突變試驗和溫度漸變試驗，散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品（后者又無人工冷卻均可使用）

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2424.1-2005

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則

英文名稱：Environmental testing for electric and electronic products-Guidance for high temperature and low temperature tests

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2005-03-03

實施日期：2005-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2424.1-1989;被GB/T 2424.1-2015代替

起草單位：廣州電器科學(xué)研究院

歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。