標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分假定相鄰失效間時(shí)間（對可修復(fù)設(shè)備）或失效前時(shí)間（對不可修復(fù)設(shè)備）的統(tǒng)計(jì)分布是服從指數(shù)分布的，即失效率為常數(shù)。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB 5080.7-1986

標(biāo)準(zhǔn)名稱：設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案

英文名稱：Equipment reliability testing Compliance test plans for failure rate and mean time between failures assuming constant failure rate

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1986-01-01

實(shí)施日期：1987-10-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L05可靠性和可維護(hù)性

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電氣工程>>29.020電氣工程綜合

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：無

起草單位：電子工業(yè)部第五研究所

歸口單位：全國電工電子可靠性與維修性標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國家標(biāo)準(zhǔn)局

檢測流程

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