標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 3834-1983

標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

實(shí)施日期：1984-07-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：調(diào)整為SJ/T 10741-1996

檢測(cè)流程

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