標準簡介：本標準規(guī)定了X射線光電子能譜儀的檢定方法。本標準適用于使用非單色化Al或MgX射線或單色化AlX射線,且?guī)в袨R射清潔用離子槍的X射線光電子能譜儀的檢定。

標準號：GB/T 25184-2010

標準名稱：X射線光電子能譜儀檢定方法

英文名稱：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2010-09-26

實施日期：2011-08-01

中國標準分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：化工技術>>分析化學>>71.040.40化學分析

起草單位：福建光電有限公司、廈門大學固體表面物理化學國家重點實驗室

歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會表面分析分委員會

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

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