標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)以最少量的資料描述了用X射線光電子能譜測量絕緣樣品內(nèi)能級結(jié)合能,及將在報告其分析結(jié)果時所采用的荷電控制和荷電校正方法,也給出了在結(jié)合能測量過程中對于荷電控制和荷電校正有用的方法資料。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 25185-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱：表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜-荷電控制和荷電校正方法的報告

英文名稱：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2010-09-26

實施日期：2011-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.40化學(xué)分析

起草單位：北京師范大學(xué)分析測試中心

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

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