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GB/T38447-2020微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗(yàn)方法

2024-12-03

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗(yàn)的試驗(yàn)方法,包括設(shè)備、試驗(yàn)環(huán)境、樣品要求、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)步驟。本標(biāo)準(zhǔn)適用于MEMS結(jié)構(gòu)的共振疲勞試驗(yàn)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 38447-2020

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng):微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù) MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗(yàn)方法

英文名稱(chēng):Micro-electromechanical system technology—Fatigue testing method of MEMS structure using resonant vibration

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2020-03-06

實(shí)施日期:2020-07-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)(ICS):電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)

起草單位:北京大學(xué)、中機(jī)生產(chǎn)力促進(jìn)中心、北京智芯傳感科技有限公司、沈陽(yáng)國(guó)儀檢測(cè)技術(shù)有限公司、浙江博亞精密機(jī)械有限公司、中北大學(xué)、北京必創(chuàng)科技股份有限公司

歸口單位:全國(guó)微機(jī)電技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 336)

發(fā)布單位:國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.

檢測(cè)流程

檢測(cè)流程

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GB/T31552-2015鑄造機(jī)械型號(hào)編制方法
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