標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：GB/T 5170的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”）檢驗(yàn)所用術(shù)語(yǔ)和定義、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)用儀器及要求、檢驗(yàn)周期、檢驗(yàn)負(fù)載、外觀和安全、檢驗(yàn)記錄表、檢驗(yàn)結(jié)果處理等。? 本部分適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn)，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn)亦可參照使用。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5170.1-2016

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分：總則

英文名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Part 1:General

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2016-12-13

實(shí)施日期：2017-07-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5170.1-2008

起草單位：工業(yè)和信息化部電子第五研究所、廣州五所環(huán)境儀器有限公司、中國(guó)電器科學(xué)研究院有限公司、中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所、廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院、無(wú)錫蘇南試驗(yàn)設(shè)備有限公司

歸口單位：全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

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