標準簡介：本標準規(guī)定了半導(dǎo)體單晶晶向X 射線衍射定向和光圖定向的方法。本標準適用于測定半導(dǎo)體單晶材料大致平行于低指數(shù)原子面的表面取向。

標準號：GB/T 1555-2009

標準名稱：半導(dǎo)體單晶晶向測定方法

英文名稱：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2009-10-30

實施日期：2010-06-01

中國標準分類號（CCS）：冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合

國際標準分類號（ICS）：電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料

替代以下標準：替代GB/T 1555-1997

起草單位：峨嵋半導(dǎo)體材料廠

歸口單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標準化技術(shù)委員會材料分技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

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