標準簡介：本標準規(guī)定了高低溫低氣壓(含低氣壓、低溫低氣壓和高溫低氣壓)試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本標準適用于對GB 2423.21-91《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法》、GB/T 2423.25-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：低溫／低氣壓綜合試驗方法》和GB/T 2423.26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM：高溫／低氣壓綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。本標準也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。

標準號：GB/T 5170.10-1996

標準名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備

英文名稱：Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products -Combined high and low temperature/low air pressure testing??equipments

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1996-06-17

實施日期：1997-07-01

中國標準分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標準與通用方法

國際標準分類號（ICS）：試驗>>19.080電工和電子試驗

替代以下標準：替代GB 5170.10-1985;被GB/T 5170.10-2008代替

起草單位：電子工業(yè)部第五研究所

歸口單位：電子工業(yè)部標準化研究所

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。