標(biāo)準(zhǔn)號：GB 5254-1985

標(biāo)準(zhǔn)名稱：鍺單晶晶向X光衍射測定方法

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

實(shí)施日期：1986-07-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 1555-1997代替

檢測流程

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