標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)適用于位錯密度0cm~100000cm-2的n型和p型鍺單晶棒或片的位錯密度或其他缺陷的測量。觀察面為[111]、[100]和[113]面。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5252-2006

標(biāo)準(zhǔn)名稱：鍺單晶位錯腐蝕坑密度測量方法

英文名稱：Germanium monocrystal - inspection of dislocation etch pit density

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2006-07-18

實施日期：2006-11-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.01金屬材料試驗綜合

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5252-1985;被GB/T 5252-2020代替

起草單位：北京有色金屬研究總院

歸口單位：中國有色金屬工業(yè)協(xié)會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考，更多其他檢測內(nèi)容請咨詢客服。