標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 32277-2015

標(biāo)準(zhǔn)名稱：硅的儀器中子活化分析測(cè)試方法

英文名稱：Test method for instrumental neutron activation analysis (INAA) of silicon

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2015-12-10

實(shí)施日期：2017-01-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：冶金>>金屬化學(xué)分析方法>>H17半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：冶金>>77.040金屬材料試驗(yàn)

起草單位：樂(lè)山樂(lè)電天威硅業(yè)科技有限責(zé)任公司、中國(guó)原子能科學(xué)研究院、新特能源股份有限公司

歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 203)、全

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程

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