標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 1556-1979

標(biāo)準(zhǔn)名稱：硅單晶晶向X光衍射測(cè)量方法

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

實(shí)施日期：1980-01-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 1555-1997代替

檢測(cè)流程

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