GB/T26827-2011波片相位延遲測(cè)量裝置的校準(zhǔn)方法

2024-12-25

標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對(duì)波片相位延遲測(cè)量裝置進(jìn)行校準(zhǔn)的術(shù)語和定義、測(cè)量原理、校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)各種原理的波片相位延遲測(cè)量裝置的精度進(jìn)行校準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 26827-2011

標(biāo)準(zhǔn)名稱：波片相位延遲測(cè)量裝置的校準(zhǔn)方法

英文名稱：Calibration method for measurement equipment of wave plate phase retardation

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-07-29

實(shí)施日期：2011-12-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

起草單位：清華大學(xué)

歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)