檢測(cè)內(nèi)容

檢測(cè)樣品

金剛石膜、石墨烯膜、碳納米管膜、活性炭膜、等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積、生長(zhǎng)的非晶碳膜、蒸發(fā)碳膜等等。

檢測(cè)項(xiàng)目

光學(xué)性能：包括可見光透過率、紅外線透過率、紫外線透過率和表面反射率等。

耐候性能：包括耐暴曬、抗老化、耐高溫等。

機(jī)械性能：包括耐刮擦、耐磨損、拉伸強(qiáng)度和撕裂強(qiáng)度等。

化學(xué)穩(wěn)定性：包括對(duì)酸、堿、鹽水等的耐受性。

粘附力：包括與基材的粘附力和膜層之間的粘附力。

導(dǎo)電性：包括電阻率和導(dǎo)電系數(shù)等。

防紫外線性能：包括對(duì)紫外線的吸收和反射等。

檢測(cè)周期

一般7-10個(gè)工作日出具報(bào)告，可加急。

參考標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

KS C 6413-1974(1997) 孤立狀碳膜固定電阻器

KS C 6417-1985(2000) 碳膜電阻器

KS C 5117-2003 絕緣碳膜電阻器

KS C 6409-2002 通用碳膜可調(diào)電位器

JUS N.R3.101-1981 碳膜電阻器.固定式、低功率、標(biāo)準(zhǔn)穩(wěn)定性，氣候特性55/155/56

SJ/T 10617-2017 電子元器件詳細(xì)規(guī)范 低功率非線繞固定電阻器 RT13型碳膜固定電阻器 評(píng)定水平E

GB/T 12635-1990 碳膜電阻器用陶瓷基體

JIS C5212-1995 電子設(shè)備用圓柱體碳膜片層固定電阻器(形狀27,特性D及G,等級(jí)C)

JIS C6407-1992 用于電氣設(shè)備的絕緣固定碳膜電阻器

JB/T 5632-1991 碳膜電阻滲碳爐 能耗分等

YS/T 613-2006 碳膜電位器用電阻漿料

KS C 5117-2003(2018) 孤立狀碳膜固定電阻器

GB 12635-1990 碳膜電阻器用陶瓷基體

SJ/T 11171-2016 單、雙面碳膜印制板分規(guī)范

KS C 6370-1995(2000) 電子設(shè)備碳膜固定電阻器使用(特征D和G)

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)碳膜電阻檢測(cè)項(xiàng)目而定。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般碳膜電阻檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)流程

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