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共振疲勞測試

2024-07-09

檢測內容

檢測范圍

微電機器件、半導體器件等。

檢測項目

共振疲勞檢測等。

檢測周期

一般3-15個工作日出具報告,可加急。

微電機器件在生產、使用和研發(fā)等過程中遇到的共振疲勞等問題,中析研究所檢測中心可以幫客戶進行基于相關技術層面的,有效的分析檢測,提供科學嚴謹公正的檢測數(shù)據(jù)。

參考標準

GB/T 38447-2020 微機電系統(tǒng)(MEMS)技術 MEMS結構共振疲勞試驗方法

JIS C5630-12-2014 半導體器件.微電機器件.第12部分:使用MEMS結構共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法

NF C96-050-12-2012 半導體器件 - 微型機電裝置 - 第12部分: 使用MEMS結構共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法.

IEC 62047-12-2011 半導體器件.微電機器件.第12部分:使用MEMS結構共振的薄膜材料的彎曲疲勞檢測方法

檢測時間周期

一般3-10天出報告,有的項目1天出報告,具體根據(jù)共振疲勞測試項目而定。

檢測報告有效期

一般共振疲勞測試報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

檢測流程

檢測流程

溫馨提示:以上內容僅供參考,更多其他檢測內容請咨詢客服。

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