檢測(cè)內(nèi)容

檢測(cè)范圍

晶振、晶振片、石英晶振片等。

檢測(cè)項(xiàng)目

包裹體密度、紅外質(zhì)量級(jí)別、腐蝕隧道密度、尺寸偏差、晶片直徑、標(biāo)稱(chēng)頻率、負(fù)載電容、激勵(lì)電平、調(diào)整頻差、諧振電阻、并電容、品質(zhì)因數(shù)、諧振電阻、電阻比值等。

檢測(cè)周期

一般7-15個(gè)工作日出具報(bào)告，可加急。

晶振片在生產(chǎn)、使用和研發(fā)等過(guò)程中遇到的力學(xué)性能、化學(xué)性能、安全性能、技術(shù)指標(biāo)達(dá)不到設(shè)計(jì)要求等問(wèn)題，中析研究所檢測(cè)中心可以幫客戶(hù)進(jìn)行基于相關(guān)技術(shù)層面的，有效的分析檢測(cè)，提供科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)公正的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

參考標(biāo)準(zhǔn)

T/CEMIA 006-2018 膜厚監(jiān)控用石英晶振片

GB/T 2421.1-2008 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南

GB/T 2828.1-2012 計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序 第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃

GB/T 3352—2012 人造石英晶體 規(guī)范與使用指南

GB/T 12273.1-2017 有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體元件 第1部分：總規(guī)范

SJ/Z 9154.3-1987 利用有并電容C，補(bǔ)償?shù)?pi;網(wǎng)絡(luò)相位法測(cè)量頻率高達(dá)200 MHz的石英晶體元件兩端網(wǎng)絡(luò)的基本測(cè)量方法

RoHS 指令/2011/65/EU 關(guān)于在電子設(shè)備中限制使用有害物質(zhì)的歐盟議會(huì)和歐盟理事會(huì)第 2011/65/EU 號(hào)指令

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)晶振檢測(cè)項(xiàng)目而定。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般晶振檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)流程

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